表面細節的非接觸量測工具
為了測量表面最細微的細節，TopMap 系列光學輪廓儀系統是首選解決方案。從顯微到宏觀，Polytec 的產品可以滿足最嚴苛的應用需求。自 1967 年以來，Polytec 一直在提供領先的光學測量技術。最新一代光學輪廓儀 TopMap Micro.View® 和 Micro.View®+ 提供無與倫比的功能。分析所有類型表面的粗糙度、微觀結構、磨損、密封性能等。光學、非接觸式形貌測量有助於滿足精密工程中的嚴格公差，並將功能表面的質量控制提升到一個全新的高度。
TopMap Micro.View®+
- High-end white-light interferometer with nm resolution
- 100 mm z measurement range with CST Continuous Scanning Technology
- With Focus Finder and Focus Tracker ready for automation
- Motorized X, Y, Z, tip/tilt and turret save repositioning
- Color information mode for extended analysis and documentation of defects
- Modular, application-specific configurations
可靠、精確、創新
Micro.View® 和 Micro.View®+ 是下一世代光學表面輪廓儀。Focus Finder 和 Focus Tracker 極大地提高了在所有條件下的易用性，並且 CST 連續掃描技術允許了高達 100 mm 的整個行程範圍作為擴展的測量範圍。使用最新的顏色信息成像分析來區分和記錄缺陷和視覺失真。以亞納米分辨率量化表面形貌，並可靠地捕捉最細微的細節。
設備小巧、功能強大
受益於可選的 ECT 環境補償技術，即使在嘈雜和具有挑戰性的生產環境中也能確保可靠和準確的測量結果。 Micro.View® 是一種經濟高效的質量控制儀器，用於在製造和研究領域檢查精密工程表面。
可自動化、產線就緒
編碼和電動轉台確保物鏡之間的無縫更換。Micro.View®+ 還具有最新的 Focus Finder 和 Focus Tracker，可在任何情況下保持表面對焦。完全電動的樣品定位台允許拼接和自動化。
