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微機電系統Micro
Electro-Mechanical |
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德國Polytec近年來持續研發先進之非接觸式雷射都卜勤與白光干涉技術,已發展出針對MEMS動態和輪廓量測的多功能合一技術-Polytec
MSA,配備精準的顯微鏡,再結合掃描式雷射都卜勒技術來量測離面振動(正交於物件表面)、閃頻影像顯微技術作面內位移量測(平行物件表面),不僅是響應頻率、振形、阻尼、穩定響應和衰減時間等動態參數與結構特性;還有不論是粗糙或反射物體的高度與外型,白光干涉技術都可獲得剖面、外形、臨界尺寸和粗糙度的基本靜態參數, Polytec MSA技術可結合在一般的MEMS探針平台,適用在實驗室研發和產線上的品管應用。 |
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