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一月

2018年01月30日 雷射都卜勒非接觸式振動量測研討會

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舉 辦 日 期:2018年01月30日

舉 辦 時 間:09:00~17:00

主 辦 單 位:山衛科技股份有限公司

協 辦 單 位:中華民國振動與噪音工程學會

                 微感測器與致動器產學聯盟

舉 辦 地 點:台北 (報名完成後另行通知)

主講人:德國 Polytec  光學量測技術專家 Mr. Chris Chia

           山衛科技 劉俊伯 先生

報 名 費 用:免費參加,名額有限請盡早報名

報 名 方 式:1. 請填妥報名表並傳真至 02-26921380 或E-MAIL至 Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它

                 2. 線上報名

聯 絡 電 話:02-2692-1400 #259(余小姐)

報名截止日期:2018年01月24日

雷射都卜勒技術利用雷射光入射物件表面,因物件振動使得入射/反射光產生相干涉,解析干涉後的雷射光訊號,可獲得振動物件的速度、加速度、位移與頻之率對應結果,此一非接觸式光學量測技術,具有無附加質量影響、測量表面無需處理、抗干擾能力強等特性。

 

 

現今3C產品越做越好、功能越來越多、尺寸越來越小。換言之,其構成的元件朝著輕薄短小的趨勢發展走,但是,所要達到的功能卻不能因此短少。以喇叭來說,尺寸縮小但仍要保持該有的功能、不能因尺寸縮小使得手機使用者聽不出來對方講的話、或是男人變女聲,其聲音無法完整正確地表達。

 

針對小型喇叭薄膜這種小尺寸、質地輕、材質透明的元件來講,需用非接觸式的量測技術,無質量效應的影響,可得到薄膜整個面的振動情形,在有問題的聲音頻率下,查看其薄膜的振型動畫即可了解問題所在,著向正確的解決方向。

       可獲得哪些資料

FFT頻譜圖,1/3 Octave頻譜圖,加權頻譜,A加權頻譜,振動位移量,振動速度,振動加速度值,dB值,振動量的均方根值,Autopower,Crosspower,Frequency Response Function,相位,實部,虛部,整個掃描面的振型動畫,動態振型剖面圖……等。

 微機電系統Micro Electro-Mechanical System(MEMS)是一種結合電子、機械、材料、光電等技術製作而成的各種微型機電整合系統,包含整合多個機械結構與電子線路到多個晶片上。MEMS主要的產品類別大致可分為加速計、陀螺儀、壓力感測器、光通訊元件、DLP(數位光源處理)、噴墨頭,以及無線網路RF感測元件等,目前已逐漸應用在汽車胎壓量測、光通訊網路、投影機、感測網路、數位麥克風、時脈振盪器,以及包括遊戲機在內的各種產品之中,甚至在新一代記憶體技術、生物晶片、顯示技術、新興能源等。

~MEMS動態特性~                            ~微鏡片陣列振型~                           ~壓力感測器振型~

隨著物質文明的快速演進,人類正步入了一個充滿競爭與挑戰的時代;而代表微小化、多功能化及平價化的MEMS產品技術,已被公認為新世代改變人類生活面貌的主要動力之一。

 

掃瞄式振動量測可快速得到操作變形振型(ODS),能將變形過程匯出成動畫,或匯出成固定格式進行結構模態分析,高精準度的量測數據可與有限元素模擬結果對照,提升產品設計完整性。應用於非破壞檢測:利用缺陷處對於激振源的非線性響應,找出結構物中缺陷的存在、位置與大小,進而評估維修的時機、對結構安全性作定期地監控(飛機、汽車、橋樑、風機葉片)

 

 

德國Polytec先進之非接觸雷射都卜勒技術,配合影像處理技術及分析能力,讓我們不但可以量測到結構動態特性及其整體的運動模式外,同時該定量的數位化數據,更可以補足CAE技術的不確定性,提供最佳化設計的成果。

參考資料 :
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